奥林巴斯 BondMaster 600多模式粘接
奥林巴斯 Mini-Wheel扫查器
奥林巴斯 NORTEC 600涡流探伤仪
奥林巴斯 小底面探头
奥林巴斯 EPOCH 6LT便携式探伤仪
奥林巴斯 USPM-RU-W显微镜
奥林巴斯 AxSEAM半自动扫查器
奥林巴斯 GLIDER X-Y手动双轴扫查器
奥林巴斯 OmniScan MX2相控阵探伤仪
产品详情
保持生产过程高速运行
奥林巴斯Vanta iX在线X射线荧光（XRF）分析仪通过对生产线上的产品进行自动材料分析和合金牌号辨别，让用户对自己的产品充满信心。
进行实时过程监控和100%无遗漏检测，并提供即时结果
全天时、全天候（24/7）运行
经过配置，可提供通过/失败结果、准确的合金牌号，以及材料的化学成分信息
对于采用工业4.0方案并对生产过程实施全天时、全天候（24/7）控制以采用通过/失败分析方式验证合金的企业来说，可以使用Vanta iX分析仪对制造过程中的棒材、坯材、管材，以及机械加工零件和定制部件进行材料验证和批次/炉号控制。使用Vanta iX分析仪对产品进行自动化检测增加了成品的竞争优势，因为可以借此证明材料经过了100%的检测和验证。
在地质选矿和采矿方面，Vanta iX分析仪可以对岩芯进行扫查，对传送带上的矿石进行分析，并提供实时结果，以监控选矿和采矿过程中发生的变化，并确保矿石品位的一致性。在对传送带上的矿石进行分析的过程中，分析仪可以为精矿提供配矿验证和选矿验证。
与所有Vanta电子产品一样，Vanta iX分析仪不仅运行速度快，还可以提供可靠、可执行的结果，从而可指导关键性决策的制定。
高分辨率：辨别多种合金牌号，包括轻元素和重元素
快速提供准确的结果：分析仪的电子元件具有可提供高检测通量，稳定性强，及高计数率等特性
高效率：配备了硅漂移探测器（SDD），并采用了广受好评的Axon技术（所有Vanta分析仪都采用了这种技术）
Vanta iX分析仪用途广泛，结构紧凑，易于安装：使用其两侧的安装孔就可将其安装到机器人或其他系统上。没有外部控制箱，因此可以通过Vanta Connect API（应用程序编程接口），或者通过PLC（可编程逻辑控制器）和离散导线轻松控制分析仪。
接口选项：
以太网（RJ-45），可启用以太网供电
USB
离散I/O（16针）
辅助DC电源
Vanta iX分析仪可以承受住生产设备的剧烈振动、强烈的电磁噪声和声学噪音，并具有防尘和防潮的特性，从而可提高检测的可靠性，增加正常运行时间。
振动测试（MIL-STD）
符合IP54评级标准
可以在–10 °C至50 °C的温度范围内连续工作
内置散热器可以降低分析仪内部的温度，如果需要进一步冷却，还可以通过风扇连接点连接一个风扇。无需使用工具，就可以更换分析仪的窗口，从而实现快速维护的目标。
| 外型尺寸（宽 × 高 × 厚） | 10 cm × 7.9 cm × 26.6 cm |
| 重量 | 2.4公斤 |
| 激励源 | X射线管：铑或钨阳极靶材（应用优化），5 ～ 200 µA MR型号：8 ～ 50 keV（4 W最大） CW型号：8 ～ 40 keV（4 W最大） |
| 主光束滤光片 | 8种滤光片位置，根据选择的光束和方式自动匹配。 |
| 探测器 | MR型号：大区域硅漂移探测器 CW型号：标准硅漂移探测器 |
| 电源 | 通过以太网（PoE+）或者18 V AC电源适配器供电 |
| 可检测元素范围 | 取决于方式： MR型号：从镁（Mg）到铀（U）的元素 CW型号：从钛（Ti）到铀（U）的元素（使用标准窗口并经过校准） |
| 压力校正 | 内置气压计，用于海拔和空气压力的自动校正 |
| IP评级 | IP54 |
| 操作环境 | 温度范围：−10 °C ～ 50 °C，可连续工作 湿度：相对湿度为10 % ～ 90 %，无冷凝 |
| 操作系统 | Linux |
| 应用软件 | 奥林巴斯专有的数据采集和处理软件包 |
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电话： 0755-89686581
13265803631/鸿泽
